本产品旨在提供精准高效的无损检测方案。其创新集成反射与透射双模式，可在相同坐标与瞬间进行连续采集，以透视图评估整体致密性、反射图精准定位局部缺陷，杜绝单一模式的盲区漏判问题。且两者空间像素100%对齐，无需后期拼合。结合AI缺陷分析算法，可自动识别、标记并统计异常区域，全面提升批量质检的精准度与效率。此外，设备支持0.5~500MHz探头快速切换，并兼容A/B/C扫描模式，完美适配各类复杂样品。

IAI二十周年特别赛季-入围作品

设计师：河南华探检测技术有限公司

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